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HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪

产品详情

HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪

HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪
参考报价:
 面议
型号:
 SZ-100 V2
品牌:
 HORIBA科学仪器事业部
产地:
 日本
样本:   信息完整度:  
典型用户:  0
产地类别:
 进口
测量时间:
 2min
分辨率:
 无
测量范围:
 0.3nm ~ 10μm
重现性:
 +-2%
分散方式:
 湿法分散
价格区间:
 40万-50万
仪器种类:
 动态光散射
分享:
400-860-3611
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名 称: HORIBA 科学仪器事业部
认 证: 工商信息已核实
信用积分:4451
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产品简介

SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具,如颗粒粒径、zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定;还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。


SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液以及亚微米悬浮液。


产品特点


·  同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数

·  宽检测范围,宽浓度范围——样品浓度可达40%

·  自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定

·  软件操作简单功能强大,一键测量

·  双光路双角度粒径测量(90° 和173°)

·  采用微量样品池


技术参数


粒径测量原理:动态光散射法(光子相关光谱法)

粒径测定范围:0.3nm ~10μm

粒径测量精度:±2%(NIST 可溯源标准粒子100nm)

Zeta 电位测量原理:激光多普勒电泳法

Zeta 电位测量范围:-500 mV ~ +500 mV

分子量测量原理:Debye plot

分子量测量范围:1000 ~ 2×107 Da

测量角度:90° 和173°(可自动或手动选择)

样品量:12μL ~ 1000μL

注:该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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展位地址:http://www.promisedayimage.com/netshow/SH100344/